倒置金相显微镜

快速分析较厚的大尺寸样品材料 专为钢铁、汽车、电子和其他制造行业设计的GX53倒置金相显微镜能够提供传统显微镜观察方法难以获得的清晰图像。 在配合奥林巴斯Stream图像分析软件使用情况下，该显微镜可让从观察到图像分析及报告的整个检测流程变得更加顺畅。

检测快捷，功能先进 快速观察、测量和分析金相组织。
先进的分析工具 1. 采用组合观察方法获得出**像 2. 轻松生成全景图像 3. 生成全聚焦图像 4. 采集明亮区域和暗光区域	针对材料学的优化 1. 专为材料科学而设计的软件 2. 符合行业标准要求的金相分析	人性化 即便新手操作员也能够轻松完成样品观察、结果分析\报告创建。 1. 轻松恢复显微镜设置 2. 用户指导让上等分析变得更加简单 3. 高效的报告创建

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先进的成像技术 我们成熟可靠的光学器件和成像技术能够提供清晰的图像和可靠的检测结果。 1. 可靠的光学性能：波前像差控制 2. 清晰的图像：图像阴影校正 3. 一致的色温：高强度白光LED照明 4. **测量：自动校准
模块化 根据您的应用要求选择所需的组件。 1. 打造专属于您的系统：利用各种选配组件获得**定制的系统

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先进的分析工具

GX53显微镜的各种观察功能可获得清晰锐利的图像，让您能够对样品进行可靠的缺陷检测。奥林巴斯Stream图像分析软件的新型照明技术和图像采集方案可为您提供评估样品和记录研究结果的更多选择。

MIX技术将暗场与另一种观察方法（如明场或偏振）相结合，让您能够观察传统显微镜难以观察的样品。圆形LED照明器的定向暗场功能可在指定时间照射一个或多个象限，从而减少样品光晕，更好地观察表面纹理。

印刷电路板切片
明场                                                                        衬底层和通孔不可见。	暗场                                                    痕迹不可见。	MIX: 明场+暗场                            所有组件均可清晰呈现。
明场                                                        纹理无法观察。	暗场象限 色彩信息被去除。	MIX: 明场+暗场象限 材料色彩和纹理均可观察

轻松生成全景图像: 即时MIA

通过多图像拼接(MIA)功能, 您转动手动载物台上的XY旋钮即可轻松完成图像拼接—电动载物台为选配。奥林巴斯Stream软件采用模式识别生成全景图像，特别适合用于检查渗碳和金属流动情况。

螺栓的金属流动

奥林巴斯Stream软件的景深扩展(EFI) 功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI可将这些图像堆叠在一起生成单幅的样品全聚焦图像。即便分析表面不平坦的切片样品时，EFI也能够创建全聚焦图像。
EFI配合手动或电动Z轴聚焦装置，可生成高度图像，对结构进行可视化观察。

                                                             使用对焦手柄调整物镜高度。                              EFI自动采集和堆叠多幅图像，生成单幅的样品全聚焦图像。                                 生成全聚焦图像。

采用先进图像处理技术的高动态范围(HDR)可在图像内调整亮度差异，从而减少眩光。其也有助于增强低对比度图像的对比度。高动态范围(HDR)功能可用于观察电子组件的细微结构并识别金属晶界。

金板

某些部位存在眩光。                                                                                       暗光区域和明亮区域利用HDR获得清晰呈现。

铬扩散涂层

对比度低且不清晰。                                                                                                      利用HDR增强对比度。

应用
采用不同观察方法所获得的效果示例。

经过抛光的AlSi样品（明场 / 暗场）

明场                                                                                                                         暗场   明场：一种观察直接照射样品反射光的常见观察方法。 暗场：可观察样品的散射或衍射光线，因此诸如微小划痕或瑕疵等缺陷非常明显。

球墨铸铁（明场 / DIC）

明场                                                                                                                   DIC观察   微分干涉相差显微技术(DIC)：一种将样品高度以类似提高了对比度的3D图像，呈现出浮雕效果的观察技术；其非常适用于观察金相结构和矿物等具有极其细微高度差的样品。

铝合金（明场/偏光）

明场                                                                                                                    偏光观察   偏光：一种能够突出材料纹理和晶体状态的观察技术，用于观察诸如球墨铸铁的石墨生长类型等金相结构和矿物。

电子组件（明场/ MIX观察）

明场                                                                                                               MIX: 明场+暗场   MIX观察：将明场和暗场相结合，样品的颜色和结构均可观察。 上面的MIX观察图像清晰再现了该组件的颜色和纹理以及粘合剂层的状况。

GX53倒置金相显微镜技术规格