镜片反射率测定仪

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简单介绍

USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪可**测量当前分光仪无法测量的微小、超薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。

的详细介绍

适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统

USPM-RU III反射仪可**测量当前分光仪无法测量的微小、薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。

USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪的特点：

◆消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。

◆可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于小区域（φ60μm），可测定镜片曲面以及镀膜层斑点。

◆测定时间短
使用Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。

◆XY色度图、L*a*b测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。

◆可测定的Hard Coat（高强度镀膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚（单层膜）。

USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪主要用途：

1、各种透镜（眼镜透镜、光读取透镜等）

2、反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）

USPM-RUⅢ镜片反射率测定仪规格：

测定波长	380 nm～780 nm
测定方法	与参照样本的比较测定
被检物N.A.	0.12（使用10×物镜时） 0.24（使用20×物镜时） * 与物镜的N.A.不同。
被检物W.D.	10.1 mm（使用10×物镜时） 3.1 mm（使用20×物镜时）
被检物的曲率半径	-1R ～-∞、+1R～∞
被检物的测定范围	约ø60 μm（使用10×物镜时）约ø30 μm（使用20×物镜时）
测定再现性（2σ）	±0.1%（380 nm～410 nm测定时） ±0.01%（410 nm～700 nm测定时）
显示分辨率	1 nm
测定时间	数秒～十几秒（因取样时间而异）
光源规格	卤素灯　12 V 100 W
载物台Z方向驱动范围	85mm
PC接口	USB方式
装置重量	机身：约20 kg（PC、打印机除外）光源用电源：约3 kg 控制器盒：约8 kg
装置尺寸	机身： 300（W）×550（D）×570（H） mm 光源用电源： 150（W）×250（D）×140（H） mm 控制器盒： 220（W）×250（D）×140（H） mm
电源规格	光源用电源： 100 V（2.8 A）/220 V AC 控制器盒： 100V（0.2A）/220V AC
使用环境	水平且无振动的地方温度： 23±5 °C 湿度： 60%以下、无结露

* 本装置不保证溯源体系中的优良精度。
* 可以特别订做测定波长440 nm～840 nm规格。